随着电路技术进入超大规模集成时代，电路的高度复杂性以及多层印制板、表面贴装和多芯片模块技术在电路系统中的应用，都使得很多电路节点的物理可访问性正逐步削弱甚至消失，电路和系统的可测试性急剧下降，测试开销在电路和系统总开销中所占的比例不断上升，AOI+ICT的传统测试方案已经无法满足现行产品的测试和故障诊断。

特别是在服务器市场中，持续增加的产量要求、更严格的质量要求，在产品复杂度日益增加的情况下，产品测试面临着巨大的挑战。现在，几乎所有复杂的芯片都具集成JTAG控制接口（TCK/TMS/TDI/TDO/TRST），JTAG控制逻辑简单方便，易于实现。

边界扫描测试是一种基于软件的测试解决方案，硬件干预非常少。

其优点包括 :

1.方便芯片的故障定位，迅速准确地测试两个芯片管脚的连接是否可靠，提高测试检验效率；

2.具有 JTAG接口的芯片，内置一些预先定义好的功能模式，通过边界扫描通道来使芯片处于某个特定的功能模式，以提高系统控制的灵活性和方便系统设计；

3.适用于研发和实验室，提前侦测产品设计阶段的故障；

4.适用于量产阶段，提升产品测试的覆盖率，为产品质量保驾护航。

目前电子产品测试大多使用如下边界扫描控制器：